Photoelektronenspektroskopie (XPS / ESCA) - Anwendungsbeispiele

Bestimmung des Vernetzungsgrades von SiOx-Schichten

Untersuchung einer CVD-Beschichtung mittels XPS

Bestimmung von Oxidschichtdicken mittels XPS

Oxidschichtdickenbestimmung am Beispiel einer Aluminiumoberfläche

Haftung an Polymeroberflächen

XPS- und SIMS-Untersuchungen von vorbehandelten Oberflächen zum Zweck der Haftungsverbesserung

Leitfaden zur Probenhandhabung

Hinweise zur Probennahme und -handhabung für oberflächenanalytische Techniken (z.B. XPS / ESCA, SIMS, AFM)

Quantifizierung chemischer Gruppen

Nachweis spezifischer, chemischer Gruppen an Oberflächen mittels XPS

Tiefenprofilanalyse mittels XPS

XPS-Sputtertiefenprofil einer Festplatte

Untersuchung von Beschichtungsfehlern

Die Anforderungen an Beschichtungen auf Stahl- oder Polymersubstraten sind oft sehr hoch. Neben einer einwandfreien Optik soll die Beschichtung oft auch eine Schutzwirkung für das Substrat leisten. Die Fehlerursachen bei diesen recht komplex aufgebauten Systemen können vielfältig sein.

Untersuchungen an Zellkulturoberflächen (engl.)

Untersuchungen von funktionalisierten Polystyrol Oberflächen für Zell-Biologische Versuche (in Englisch)

Verfärbung von Metalloberflächen

Verfärbungen auf Metalloberflächen sind in vielen Bereichen ein bekanntes Problem. Oberflächenanalytische Techniken spielen bei der Fehleranalyse eine wichtige Rolle.