Rasterkraftmikroskopie (AFM) - Anwendungsbeispiele

Untersuchung von Beschichtungsfehlern

Die Anforderungen an Beschichtungen auf Stahl- oder Polymersubstraten sind oft sehr hoch. Neben einer einwandfreien Optik soll die Beschichtung oft auch eine Schutzwirkung für das Substrat leisten. Die Fehlerursachen bei diesen recht komplex aufgebauten Systemen können vielfältig sein.

Optische Speichermedien

Vermessung von CD/DVD Strukturen mittels AFM

Leitfaden zur Probenhandhabung

Hinweise zur Probennahme und -handhabung für oberflächenanalytische Techniken (z.B. XPS / ESCA, SIMS, AFM)

Klebende Dispersionsschichten

Untersuchung klebender Dispersionsschichten mittels AFM

Innere Struktur von Polymerblendsystemen

Charakterisierung der inneren Struktur eines Polymerblends mittels AFM